KLA為全球半導體製程控制及設備的市場領導者，將於2022/3/24舉辦顯示器材料技術的線上研討會。邀請此領域的佼佼者，著重討論顯示器行業的技術、研究和製造，並對於量測中不可或缺的技術:
薄膜厚度量測 及
奈米壓痕測試 進行最完整的剖析說明，所有最新最前端的新知，將毫無保留的分享給每一位參與者。
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光學膜厚儀 薄膜厚度、折射率&消光係數 非破壞性量測薄至1奈米或厚至13毫米的薄膜，且不須移動任何零件，快速的量測得薄膜厚度、折射率&消光係數 (n&k值）、顏色、基至是表面粗糙度，系統透過反射光譜、穿透光譜進行強大演算法分析，搭配超過1000種材質的資料庫，實現即時的準確監控分析，是製程監控及提升良率的可靠工具。 |
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